Долговременная релаксация в пьезоэлектрической керамике ЦТС, обусловленная дефектами кристаллической решётки нанометрового масштаба

Abstract

Представлены результаты изучения долговременной релаксации в пьезоэлектрической керамике Pb(Zr,Ti)O₃ после прекращения возбуждения (электрическим полем, нагревом, механическим сжатием). В процессе старения происходит уменьшение диэлектрической проницаемости по логарифмическому закону. Подобное поведение связывается с релаксацией электрического заряда, выделившегося при частичной деполяризации керамики и локализовавшегося на дефектах решётки нанометрового масштаба.

Представлено результати вивчення довготривалої релаксації у п’єзоелектричній кераміці Pb(Zr,Ti)O₃ після припинення збудження (електричним полем, нагріванням, механічним стисканням). У процесі старіння відбувається зменшення діелектричної проникности за логаритмічним законом. Подібна поведінка пов’язується з релаксацією електричного заряду, що виділився при частковій деполяризації кераміки і який локалізувався на дефектах ґратниці нанометрового масштабу.

The results of long-time relaxation in the piezoelectric Pb(Zr,Ti)O₃ ceramics after the cessation of excitation (by electric field, heating, mechanical compression) are presented. Reduce of the dielectric constant according the logarithmic law takes place during ageing. Such behaviour is associated with relaxation of the electric charge, which is precipitated at partial depolarization of ceramics and localized on nanoscale defects of lattice.