Ильинский, А.Г.; Карбовский, В.Л.; Шпак, А.П.; Лепеева, Ю.В.
(Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2010)
Методами рентгеноструктурного анализа и высокоразрешающей сканирующей туннельной микроскопии однозначно установлено, что в жидких и аморфных материалах основной структурной составляющей являются кристаллики (кристаллические ...