Литвин, О.С.; Литвин, П.М.; Прокопенко, І.В.; Шеремета, Т.І.
(Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2008)
На прикладі реальних наноструктурованих поверхонь проаналізовано характерні особливості застосування метод мінімізації «ефекту зонду» в топометричних дослідженнях методою сканівної атомно-силової мікроскопії
(АСМ). Подано ...