Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Романов, В.А.
dc.contributor.author Галелюка, И.Б.
dc.date.accessioned 2010-03-04T10:48:49Z
dc.date.available 2010-03-04T10:48:49Z
dc.date.issued 2006
dc.identifier.citation Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат / В.А. Романов, И.Б. Галелюка // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2006. — № 5. — С. 133-140. — Бібліогр.: 6 назв. — рос. uk_UA
dc.identifier.issn 1817-9908
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/6449
dc.description.abstract Рассмотрены методы совершенствования параметров аналоговых интерфейсов на основе БИС и особенности оценки эффективности этих методов с помощью виртуальных плат. uk_UA
dc.description.abstract It is considered signal averaging to increase the ADC resolution and time interleaving to increase ADC sample rate. The methods are checked with virtual evaluation board. uk_UA
dc.language.iso ru uk_UA
dc.publisher Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України uk_UA
dc.title Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат uk_UA
dc.title.alternative Methods of perfecting of performances of microelectronic components and analysis of their efficiency with virtual evaluation boards uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA
dc.identifier.udc 381.3


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис