Метод параллельной генерации тестов на переключательном уровне для МОП-схем

Домашня сторінка
→
Фізико-технічні та математичні науки
→
Відділення фізико-технічних проблем енергетики
→
Электронное моделирование
→
Электронное моделирование, 2011, том 33
→
Электронное моделирование, 2011, № 1
→
Переглянути статтю

dc.contributor.author	Андрюхин, А.И.
dc.date.accessioned	2014-05-10T20:09:29Z
dc.date.available	2014-05-10T20:09:29Z
dc.date.issued	2011
dc.identifier.citation	Метод параллельной генерации тестов на переключательном уровне для МОП-схем / А.И. Андрюхин // Электронное моделирование. — 2011 — Т. 33, № 1. — С. 91-98. — Бібліогр.: 13 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	0204-3572
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/61731
dc.description.abstract	Рассмотрен параллельный метод генерации тестов на переключательном уровне. Представлены экспериментальные результаты исследований эффективности предложенного метода для схем списка Iscas-89.	uk_UA
dc.description.abstract	Розлянуто паралельний метод генерації тестів на перемикальному рівні. Наведено експериментальні результати ефективності досліджень запропонованого методу для схем списку Iscas-89.	uk_UA
dc.description.abstract	À method for pseudo-random test generation on switch level is described. Experimental results of investigation on Iscas-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of the proposed method.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут проблем моделювання в енергетиці ім. Г.Є. Пухова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Электронное моделирование
dc.subject	Точность, надежность, диагностика	uk_UA
dc.title	Метод параллельной генерации тестов на переключательном уровне для МОП-схем	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA
dc.identifier.udc	004.051-054