Метод считывания и обработки стационарных интерференционных картин

dc.contributor.author	Ильин, В.Н.
dc.contributor.author	Дубешко, А.В.
dc.contributor.author	Михаевич, Д.А.
dc.date.accessioned	2013-12-28T00:24:18Z
dc.date.available	2013-12-28T00:24:18Z
dc.date.issued	2009
dc.identifier.citation	Метод считывания и обработки стационарных интерференционных картин / В.Н. Ильин, А.В. Дубешко, Д.А. Михаевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 4. — С. 59-62. — Бібліогр.: 1 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	2225-5818
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52100
dc.description.abstract	Разработан оптоэлектронный метод считывания и определения дробной доли полосы стационарных интерференционных картин, формируемых в модернизированном двухлучевом интерферометре Кестерса при поверке концевых мер длины.	uk_UA
dc.description.abstract	Оптоелектронна система зчитування дозволяє отримувати і обробляти зображення інтерференційної картини в інтерферометрі Кестерса в режимі реального часу і має достатню розрізнювальну здатність. Середнє квадратичне відхилення результату вимірювань складає 0,001 мкм. Загальний час, що витрачається на вимірювання і обробку результатів, скоротився з двох годин до 30 хвилин.	uk_UA
dc.description.abstract	Optoelectronic reading system allows to obtain and process the interference pattern image in the Kosters interferometer in the real-time mode and has sufficient resolution. Rms deviation of measuring result is 0,001 mm. Total time spent on measuring and analysing the results, was reduced from two hours to 30 minutes.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.subject	Метрология. Стандартизация	uk_UA
dc.title	Метод считывания и обработки стационарных интерференционных картин	uk_UA
dc.title.alternative	Метод зчитування і обробки стаціонарних інтерференційних картин	uk_UA
dc.title.alternative	Method of stationary interference patterns reading and processing	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA