Локальные свойства электрически активных дефектов в солнечных батареях на основе кремния

dc.contributor.author	Попов, В.М.
dc.contributor.author	Клименко, А.С.
dc.contributor.author	Поканевич, А.П.
dc.contributor.author	Шустов, Ю.М.
dc.contributor.author	Гаврилюк, И.И.
dc.contributor.author	Панин, А.И.
dc.date.accessioned	2013-12-21T01:03:02Z
dc.date.available	2013-12-21T01:03:02Z
dc.date.issued	2010
dc.identifier.citation	Локальные свойства электрически активных дефектов в солнечных батареях на основе кремния / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич, Ю.М. Шустов, И.И. Гаврилюк, А.И. Панин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2010. — № 4. — С. 43-48. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	2225-5818
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/51967
dc.description.abstract	Исследованы электрически активные дефекты с локально повышенной проводимостью p-n-перехода и световой эмиссией. Показано, что по их концентрации можно контролировать качество солнечных батарей в процессе изготовления.	uk_UA
dc.description.abstract	Представлено результати досліджень електрично активних дефектів на поверхні пластин сонячних батарей, які характеризуються підвищеною провідністю p-n-перехода та світловою емісією у видимий області спектру. Вивчено електричні та фізико-хімічні властивості дефектів. Встановлено локально підвищену концентрацію алюмінію в області дефектів. Визначено підвищену щільність дефектів на краях пластин сонячних батарей. Показано можливість контролю якості сонячних батарей по аналізу концентрації світловипромінюючих дефектів в процесі виготовлення приладів.ѕ	uk_UA
dc.description.abstract	The results of investigation of electrically active defects on the solar cell surface are presented. Defects are characterized by high local conductivity of p-n-junctions and visible light emission. Electrical, physical and chemical properties of defects have been studied. Increased local concentration of aluminium in the defect regions was revealed. High density of defects has been determined at the edges of solar cell wafers. Possibility of solar cells quality control by registration of light emissive defect concentration during technological processes has been shown.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.subject	Функциональная микро- и наноэлектроника	uk_UA
dc.title	Локальные свойства электрически активных дефектов в солнечных батареях на основе кремния	uk_UA
dc.title.alternative	Локальні властивості електрично активних дефектів в сонячних батареях на основі кремнію	uk_UA
dc.title.alternative	Investigation of local electrophysical properties of electrically active defects in silicon-based solar cells	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA