Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы

dc.contributor.author	Попов, В.М.
dc.contributor.author	Клименко, А.С.
dc.contributor.author	Поканевич, А.П.
dc.contributor.author	Самотовка, В.Л.
dc.date.accessioned	2013-12-14T01:11:54Z
dc.date.available	2013-12-14T01:11:54Z
dc.date.issued	2011
dc.identifier.citation	Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы / В.М. Попов, А.С. Клименко, А.П. Поканевич, В.Л. Самотовка // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 6. — С. 30-34. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	2225-5818
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/51864
dc.description.abstract	Метод основан на использовании визуального отображения в поляризационном микроскопе локально нагретых областей в пленке холестерического жидкого кристалла на поверхности кристалла интегральной схемы.	uk_UA
dc.description.abstract	Запропоновано метод візуального відображення температури поверхні кристала інтегральної схеми (ІС) в плівці холестеричного рідкого кристала, осадженій на поверхню із розчину. Границі локальних областей є ізотермами з температурами відповідних фазових переходів. По положенню ізотерм і потужності, яку споживає кристал ІС, визначаються теплові опори між поверхнею і середовищем.	uk_UA
dc.description.abstract	Method for visualization of integrated circuit (IC) surface temperature by means of the liquid crystal film deposited from solution on its surface is proposed. The boundaries of local regions represent isotherms with corresponding phase transitions. On the base of isotherms positions and consumed by IC power thermal resistances between crystal and environment are determined.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.subject	Технологические процессы и оборудование	uk_UA
dc.title	Метод определения температуры и теплового сопротивления точек поверхности кристалла интегральной схемы	uk_UA
dc.title.alternative	Метод визначення температури та теплового опору точок поверхні кристала інтегральної схеми	uk_UA
dc.title.alternative	Method of determination of temperature and heat resistance of the points on the integrated circuit crystal surface	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA
dc.identifier.udc	621-382