Сидоренко, В.П.; Вербицкий, В.Г.; Прокофьев, Ю.В.
(Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2012)
Разработана, изготовлена и испытана СБИС, позволяющая в составе микроэлектронного координатно-чувствительного детектора проводить одновременный анализ всего элементного состава материала. Схема обеспечивает срабатывание ...