Перевертайло, В.Л.
(Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2012)
Предложен метод определения мощности дозы излучения по ионизационному току в p—n-переходе и радиационной стойкости МДП интегральных схем с помощью низкоэнергетического (10—40 кэВ) рентгеновского излучения.