Показати простий запис статті
dc.contributor.author |
Солонін, Ю.М. |
|
dc.contributor.author |
Грайворонська, К.О. |
|
dc.date.accessioned |
2012-01-06T10:52:39Z |
|
dc.date.available |
2012-01-06T10:52:39Z |
|
dc.date.issued |
2010 |
|
dc.identifier.citation |
Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) / Ю.М. Солонiн, К.О. Грайворонська // Доп. НАН України. — 2010. — № 6. — С. 97-102. — Бібліогр.: 4 назв. — укр. |
uk_UA |
dc.identifier.issn |
1025-6415 |
|
dc.identifier.uri |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/29833 |
|
dc.description.abstract |
Методом електронної мiкроскопiї високої роздiльної здатностi (ЕМВРЗ) у суцiльних плiвках фулериту C60 встановлено iснування двох типiв границь мiж кристалiтами. По-перше, це практично iдеальнi когерентнi границi мiж двiйниками. По-друге, некогерентнi границi, що iнiцiюють утворення множинних дефектiв пакування в одному iз прилеглих зерен. |
uk_UA |
dc.description.abstract |
By means of high resolution electron microscopy (HREM), two types of crystallite boundaries are found in fullerite C60 thin films: practically ideal coherent boundaries between twins and incoherent boundaries initiating the formation of multiple stacking faults in one of the adjacent grains. |
uk_UA |
dc.language.iso |
uk |
uk_UA |
dc.publisher |
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України |
uk_UA |
dc.relation.ispartof |
Доповіді НАН України |
|
dc.subject |
Матеріалознавство |
uk_UA |
dc.title |
Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) |
uk_UA |
dc.title.alternative |
The investigation of peculiarities of structure of boundaries in С60 films by high resolution electron microscopy (HREM) |
uk_UA |
dc.type |
Article |
uk_UA |
dc.status |
published earlier |
uk_UA |
dc.identifier.udc |
539.25:620.187 |
|
Файли у цій статті
Ця стаття з'являється у наступних колекціях
Показати простий запис статті