Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ)
Репозиторій DSpace/Manakin
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
| dc.contributor.author | Солонін, Ю.М. | |
| dc.contributor.author | Грайворонська, К.О. | |
| dc.date.accessioned | 2012-01-06T10:52:39Z | |
| dc.date.available | 2012-01-06T10:52:39Z | |
| dc.date.issued | 2010 | |
| dc.identifier.citation | Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) / Ю.М. Солонiн, К.О. Грайворонська // Доп. НАН України. — 2010. — № 6. — С. 97-102. — Бібліогр.: 4 назв. — укр. | uk_UA |
| dc.identifier.issn | 1025-6415 | |
| dc.identifier.uri | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/29833 | |
| dc.description.abstract | Методом електронної мiкроскопiї високої роздiльної здатностi (ЕМВРЗ) у суцiльних плiвках фулериту C60 встановлено iснування двох типiв границь мiж кристалiтами. По-перше, це практично iдеальнi когерентнi границi мiж двiйниками. По-друге, некогерентнi границi, що iнiцiюють утворення множинних дефектiв пакування в одному iз прилеглих зерен. | uk_UA |
| dc.description.abstract | By means of high resolution electron microscopy (HREM), two types of crystallite boundaries are found in fullerite C60 thin films: practically ideal coherent boundaries between twins and incoherent boundaries initiating the formation of multiple stacking faults in one of the adjacent grains. | uk_UA |
| dc.language.iso | uk | uk_UA |
| dc.publisher | Видавничий дім "Академперіодика" НАН України | uk_UA |
| dc.relation.ispartof | Доповіді НАН України | |
| dc.subject | Матеріалознавство | uk_UA |
| dc.title | Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) | uk_UA |
| dc.title.alternative | The investigation of peculiarities of structure of boundaries in С60 films by high resolution electron microscopy (HREM) | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |
| dc.status | published earlier | uk_UA |
| dc.identifier.udc | 539.25:620.187 |
