Методы, приборы и результаты определения удельной поверхности алмазных порошков

Abstract

Приведен обзор методов определения удельной поверхности различных дисперсных материалов. Отражены принципиальные отличия применяемых приборов и процедур проведения анализов внешней и полной удельной поверхности, в том числе и применительно к порошкам сверхтвердых материалов и тугоплавких соединений. Для практического использования приведены данные по удельной поверхности шлиф-, микро- и субмикропорошков синтетического алмаза.

A review of available methods for specific surface area determination for various dispersed materials is presented. Fundamental differences between the currently used devices and procedures of the analysis of external and total specific surface, including those applicable to powders of superhard materials and refractory compounds, are discussed. Some data on specific surface of synthetic diamond grits, micron powders, and submicron powders are provided for practical applications.