Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Pomatsalyuk, R.I.
dc.contributor.author Shevchenko, V.A.
dc.contributor.author Titov, D.V.
dc.contributor.author Tenishev, A.Eh.
dc.contributor.author Uvarov, V.L.
dc.contributor.author Zakharchenko, A.A.
dc.contributor.author Vereshchaka, V.N.
dc.date.accessioned 2023-12-07T10:41:37Z
dc.date.available 2023-12-07T10:41:37Z
dc.date.issued 2021
dc.identifier.citation Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam / R.I. Pomatsalyuk, V.A. Shevchenko D.V. Titov, A.Eh. Tenishev, V.L. Uvarov, A.A. Zakharchenko, V.N. Vereshchaka // Problems of Atomic Science and Technology. — 2021. — № 6. — С. 201-205. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. uk_UA
dc.identifier.issn 1562-6016
dc.identifier.other PACS: 87.56.bd; 41.50.+h; 81.40.Wx; 87.53Bn
dc.identifier.other DOI: https://doi.org/10.46813/2021-136-201
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/195811
dc.description.abstract When conducting an industrial radiation processes at an electron accelerator, a part of the beam energy is transformed into bremsstrahlung radiation. In such a way, the mixed e,X-radiation is formed in the area behind an irradiated object. The intensity of the electron and photon components in the radiation is determined by the energy and power of the primary electron beam, as well as by the parameters of the object and devices located behind it. In paper, the characteristics of the e,X-radiation accompanying the product processing by a scanning electron beam with energy 8…12 MeV at a LU-10 Linac of NSC KIPT are studied. The conditions for obtaining a source of secondary X-rays in the state of electronic equilibrium, as well as its monitoring using an extended free-air ionization chamber are explored. Such an extra-source of radiation can be used for carrying out various non-commercial programs like radiation tests, sanitization of archival materials and cultural heritage objects, etc. uk_UA
dc.description.abstract При проведенні радіаційно-технологічних програм на прискорювачі електронів частина енергії пучка трансформується в гальмівне випромінювання. Як наслідок, в області за об'єктом формується потік мішаного e,X-випромінювання. Інтенсивність його електронного та фотонного компонентів визначається енергією і потужністю первинного пучка електронів, а також параметрами об’єкта та розміщених за ним пристроїв. Досліджені характеристики e,X-випромінювання, що супроводжує обробку продукції скануючим пучком електронів з енергією 8…12 МеВ на промисловому прискорювачі ЛП-10 ННЦ ХФТІ. Вивчені умови отримання джерела вторинного гальмівного випромінювання в стані електронної рівноваги, а також його моніторингу з використанням протяжної вільно-повітряної іонізаційної камери. Таке додаткове джерело випромінювання може бути використано для проведення різних некомерційних програм, наприклад, радіаційних випробувань, санітарної обробки архівних матеріалів, об’єктів культурної спадщини та інше. uk_UA
dc.description.abstract При проведении радиационно-технологических программ на ускорителе электронов часть энергии пучка трансформируется в тормозное излучение. В результате, в области за объектом формируется поток смешанного e,X-излучения. Интенсивность его электронного и фотонного компонентов определяется энергией и мощностью первичного пучка электронов, а также параметрами объекта и размещенных за ним устройств. Изучены характеристики e,X-излучения, которое сопровождает обработку продукции сканирующим пучком электронов с энергией 8…12 МэВ на промышленном ускорителе ЛУ-10 ННЦ ХФТИ. Исследованы условия получения источника вторичного тормозного излучения в состоянии электронного равновесия, а также его мониторинга с использованием протяженной свободно-воздушной ионизационной камеры. Такой дополнительный источник излучения может быть использован для проведения некоммерческих программ, например, радиационных испытаний, санитарной обработки архивных материалов, объектов культурного наследия и т.п. uk_UA
dc.language.iso en uk_UA
dc.publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Вопросы атомной науки и техники
dc.subject Application of accelerators in radiation technologies uk_UA
dc.title Formation and monitoring of secondary X-ray radiation under product processing with electron beam uk_UA
dc.title.alternative Формування та моніторинг вторинного гальмівного випромінювання при обробці продукції пучком електронів uk_UA
dc.title.alternative Формирование и мониторинг вторичного тормозного излучения при обработке продукции пучком электронов uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис