Грушко, В.; Новиков, Н.; Чайка, А.; Мицкевич, Е.; Лысенко, О.
(Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2014)
Представлена новая методика исследования атомарной структуры поверхности на основе методов сканирующей туннельной микроскопии
(СТМ) и сканирующей туннельной спектроскопии (СТС) с алмазным зондом. В основу методики положена ...