Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик

dc.contributor.author	Положаенко, С.А.
dc.contributor.author	Верлань, А.А.
dc.contributor.author	Осман, И.Х.
dc.date.accessioned	2011-04-07T19:06:50Z
dc.date.available	2011-04-07T19:06:50Z
dc.date.issued	2008
dc.identifier.citation	Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик / С.А. Положаенко, А.А. Верлань, И.Х. Осман // Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки: зб. наук. пр. — Кам’янець-Подільський: Кам'янець-Подільськ. нац. ун-т, 2008. — Вип. 1. — С. 140-144. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	XXXX-0060
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/18685
dc.description.abstract	Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему. Доведено ефективність методів локалізації при діагностиці електронних пристроїв.	uk_UA
dc.description.abstract	The method of localization of defective subsystems of electronic devices, which, is offered it is founded on principle of decomposition. It is shown, that by verification definitely of the formed hypotheses in relation to being of component parts of electronic devices (essence of analysis of their descriptions), and it is possible to select defective of subsystem. Efficiency of methods of localization is led to at diagnostics of electronic devices.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Фізико-математичні науки
dc.title	Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA
dc.identifier.udc	621.36.2