Білявина, Н.М.; Стратійчук, Д.А.; Наконечна, О.І.; Авраменко, Т.Г.; Курилюк, А.М.; Туркевич, В.З.
(Доповіді НАН України, 2022)
Методом рентгенівської дифракції детально досліджено кристалічну структуру TiN, який поряд з cBN і
продуктами реакційної взаємодії компонентів шихти (TiB2 та AlN) існує в композитах, отриманих HPHТ-спіканням (7,7 ГПа, ...