Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Прохоров, В.Г.
dc.date.accessioned 2021-02-05T14:10:04Z
dc.date.available 2021-02-05T14:10:04Z
dc.date.issued 1998
dc.identifier.citation Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности / В.Г. Прохоров // Физика низких температур. — 1998. — Т. 24, № 6. — С. 544-548. — Бібліогр.: 23 назв. — рос. uk_UA
dc.identifier.issn 0132-6414
dc.identifier.other PACS: 74.20.De, 74.72.Bk
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/176569
dc.description.abstract Получены экспериментальные зависимости критической температуры сверхпроводящего перехода от толщины пленок ниобия, VN, TaN и YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, что в сверхпроводниках с малой длиной когерентности определенную роль в понижении критической температуры наряду с эффектом близости могут играть флуктуации электромагнитного поля и параметра порядка сверхпроводящей фазы. uk_UA
dc.description.abstract Одержано експериментальні залежності критичної температури надпровідного переходу від товщини плівок ніобію, VN, TaN та YBa₂Cu₃O₇₋x. Показано, що в надпровідниках з малою довжиною когерентності певну роль у зниженні критичної температури нарівні з ефектом близькості можуть грати флуктуації електромагнітного поля і параметра надпровідного порядку. uk_UA
dc.description.abstract The dependence of the superconducting transition temperature on the thickness of films of niobium, VN, TaN, and YBa₂Cu₃O₇₋x are determined experimentally. It is shown that, in addition to the proximity effect, the fluctuations of the electromagnetic field and order parameter of the superconducting phase may also play a significant role in superconductors with a small coherence length. uk_UA
dc.description.sponsorship Автор выражает благодарность С. П. Ченакину за проведение анализа пленок ниобия методом ВИМС. uk_UA
dc.language.iso ru uk_UA
dc.publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Физика низких температур
dc.subject Свеpхпpоводимость, в том числе высокотемпеpатуpная uk_UA
dc.title Зависимость критической температуры перехода от толщины сверхпроводящих пленок с различными длинами когерентности uk_UA
dc.title.alternative Dependence of the superconducting transition temperature on the thickness of superconducting films with different coherence lengths uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис