Вплив тривалого рентгенівського опромінення на структуру та електронні переходи поліського бурштину та кварцового скла

Abstract

У роботі вивчався вплив довготривалого опромінення рентгенівськими квантами з енергіями до 60 кеВ на структуру та електронні переходи поліського бурштину та кварцового скла. Методом рентгенівського дифракційного аналізу встановлено, що зразки мають аморфну структуру без кристалічних включень. Тривале опромінення поліського бурштину та кварцового скла (поглинена доза до 2800 рентген) не призвело до помітних змін дифрактограм. Електронні переходи було досліджено методом оптичної спектроскопії. Спектр люмінесценції кварцового скла не змінювався під час рентгенівського опромінення на відміну від спектру бурштину. Інтенсивність світла, яке пов’язано з релаксацією електронного переходу в бурштині з енергією 2.7 еВ, суттєво зменшувалась, а для переходу з енергією 2.25 еВ – майже не змінювалася.

В работе изучалось влияние длительного облучения рентгеновскими квантами с энергиями до 60 кэВ на электронные переходы и структуру полесского янтаря и кварцевого стекла. Методом рентгеновского дифракционного анализа установлено, что образцы имеют аморфную структуру без кристаллических включений. Длительное облучение полесского янтаря и кварцевого стекла (поглощенная доза до 2800 рентген) не привело к заметным изменениям дифрактограм. Электронные переходы были исследованы методом анализа спектров люминесценции. Спектр люминесценции кварцевого стекла не менялся во время рентгеновского облучения в отличие от спектра янтаря. Интенсивность света, который связан с релаксацией электронного перехода в янтаре с энергией 2.7 эВ, существенно уменьшалась, а для перехода с энергией 2.25 эВ - почти не менялась.

The paper deals with the effect of long-term X-ray irradiation with energies up to 60 keV on the structure and electronic transitions of poleskiy amber and silica. X-ray diffraction analysis showed that the samples had an amorphous structure without crystalline inclusions. Long-time irradiation of poleskiy amber and silica samples (absorbed dose of up to 2800 roentgens) did not lead to noticeable changes in the X-ray diffraction patterns. Electronic transitions were studied by luminescence spectrum analysis. The luminescence spectrum of silica did not change during x-ray irradiation, in contrast to the amber case. The intensity of amber light, which is associated with relaxation of electronic transition with an energy of 2.7 eV, decreased substantially, while it almost did not change for the transition with an energy of 2.25 eV.