Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Електричні і фотоелектричні властивості поверхнево-бар'єрних структур МoN/n-Si

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Солован, М.М.
dc.contributor.author Мар’янчук, П.Д.
dc.date.accessioned 2020-04-09T16:52:16Z
dc.date.available 2020-04-09T16:52:16Z
dc.date.issued 2019
dc.identifier.citation Електричні і фотоелектричні властивості поверхнево-бар'єрних структур МoN/n-Si / М.М. Солован, П.Д. Мар’янчук // Радіофізика та електроніка. — 2019. — Т. 24, № 2. — С. 49-56. — Бібліогр.: 16 назв. — укр. uk_UA
dc.identifier.issn 1028-821X
dc.identifier.other PACS: 71.55.Gs, 72.80.Ey, 73.20.Hb, 73.40.Gk, 73.40.Lq, 85.60.Bt
dc.identifier.other DOI: https://doi.org/10.15407/rej2019.02.049
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/167797
dc.description.abstract Предмет і мета роботи. Предметом досліджень є електричні та фотоелектричні властивості гетероструктури МoN/n-Si, отриманої шляхом напилення тонкої плівки нітриду молібдену (n-типу провідності) методом реактивного магнетронного розпилення на монокристалічні пластини кремнію n-типу провідності. Метою роботи є виготовлення фоточутливих поверхнево-бар’єрних структур МoN/n-Si, визначення бар’єрних параметрів та домінуючих механізмів струмоперенесення через отриману гетероструктуру при прямому та зворотному зміщеннях, дослідження фотоелектричних властивостей та причин втрат фотогенерованих носіїв заряду в отриманих гетероструктурах. uk_UA
dc.description.abstract Предмет и цель работы. Предметом исследований являются электрические и фотоэлектрические свойства гетероструктуры МoN/n-Si, полученной путем напыления тонкой пленки нитрида молибдена (n-типа проводимости) методом реактивного магнетронного распыления на монокристаллические пластины кремния n-типа проводимости. Целью работы является изготовление фоточувствительных поверхностно-барьерных структур МoN/n-Si, определение барьерных параметров и доминирующих механизмов токопереноса сквозь полученную гетероструктуру при прямом и обратном смещениях, исследование фотоэлектрических свойств и причин потерь фотогенерированных носителей заряда в полученных гетероструктурах. uk_UA
dc.description.abstract Subject and purpose. The subject of research is the electrical and photoelectric properties of the МoN/n-Si heterostructure fabricated for the first time by means of the deposition of thin film of molybdenum nitride (n-type conductivity) by the reactive magnetron sputtering onto single crystal substrates of n-type Si. The purpose of the work is to fabricate the photosensitive MoN/n-Si surface-barrier structures, determine the barrier parameters and dominant mechanisms of current transfer through the obtained heterostructure at direct and reverse biases, investigate the photoelectric properties and causes of losses of photogenerated charge carriers in the obtained heterostructures. uk_UA
dc.language.iso uk uk_UA
dc.publisher Інститут радіофізики і електроніки ім. А.Я. Усикова НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Радіофізика та електроніка
dc.subject Вакуумна та твердотільна електроніка uk_UA
dc.title Електричні і фотоелектричні властивості поверхнево-бар'єрних структур МoN/n-Si uk_UA
dc.title.alternative Электрические и фотоэлектрические свойства поверхностно-барьерных структур МoN/n-Si uk_UA
dc.title.alternative Electrical and photoelectrical properties of the surface-barrier structures MoN/n-Si uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA
dc.identifier.udc 621.383.52


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис