Аномальная чувствительность к микродефектам деформационной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции в монокристаллах

Домашня сторінка
→
Фізико-технічні та математичні науки
→
Відділення фізики і астрономії
→
Металлофизика и новейшие технологии
→
Металлофизика и новейшие технологии, 2018 (том 40)
→
Металлофизика и новейшие технологии, 2018, № 08
→
Переглянути статтю

dc.contributor.author	Молодкин, В.Б.
dc.contributor.author	Низкова, А.И.
dc.contributor.author	Лизунов, В.В.
dc.contributor.author	Молодкин, В.В.
dc.contributor.author	Кисловский, Е.Н.
dc.contributor.author	Василик, Я.В.
dc.contributor.author	Решетник, О.В.
dc.contributor.author	Владимирова, Т.П.
dc.contributor.author	Белоцкая, А.А.
dc.contributor.author	Барвинок, Н.В.
dc.date.accessioned	2019-05-13T20:33:30Z
dc.date.available	2019-05-13T20:33:30Z
dc.date.issued	2018
dc.identifier.citation	Аномальная чувствительность к микродефектам деформационной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции в монокристаллах / В.Б. Молодкин, А.И. Низкова, В.В. Лизунов, В.В. Молодкин, Е.Н. Кисловский, Я.В. Василик, О.В. Решетник, Т.П. Владимирова, А.А. Белоцкая, Н.В. Барвинок // Металлофизика и новейшие технологии. — 2018. — Т. 40, № 8. — С. 1123-1131. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	1024-1809
dc.identifier.other	PACS: 07.85.Jy, 61.05.c, 61.05.cp, 61.72.Dd, 81.40.Ef, 81.70.-q
dc.identifier.other	DOI: https://doi.org/10.15407/mfint.40.08.1123
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/151348
dc.description.abstract	Работа посвящена экспериментальному изучению диагностических возможностей метода деформационных зависимостей (ДЗ) полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) для монокристаллов с микродефектами в случае, когда диффузная составляющая ПИИДД может быть соизмеримой с её когерентной составляющей или существенно превышать её. Показано, что в этом случае ДЗ ПИИДД аномально чувствительны и уникально информативны при их использовании для определения характеристик микродефектов в многопараметрических монокристаллических системах.	uk_UA
dc.description.abstract	Роботу присвячено експериментальному вивченню діягностичних можливостей методи деформаційних залежностей (ДЗ) повної інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції (ПІІДД) для монокристалів з мікродефектами у випадку, коли дифузна складова ПІІДД може бути співмірною з її когерентною складовою або значно перевищувати її. Показано, що в цьому випадку ДЗ ПІІДД аномально чутливі й унікально інформативні при використанні їх для визначення характеристик мікродефектів у багатопараметричних монокристалічних системах.	uk_UA
dc.description.abstract	An experimental study of the diagnostic capabilities of the method of deformation dependences (DDs) of the total integrated intensity of dynamical diffraction (TIIDD) for single crystals with microdefects is carried out. The case, when the diffuse component of the TIDID can be commensurable with its coherent component or substantially exceeds it, is considered. As shown, the TIIDD DDs are anomalously sensitive and uniquely informative to characteristics of microdefects in multiparametric single-crystal systems.	uk_UA
dc.description.sponsorship	Работа выполнена при финансовой поддержке НАН Украины (дого-вор № 43Г/51-18).	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Металлофизика и новейшие технологии
dc.subject	Физико-технические основы эксперимента и диагностики	uk_UA
dc.title	Аномальная чувствительность к микродефектам деформационной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции в монокристаллах	uk_UA
dc.title.alternative	Аномальна чутливість до мікродефектів деформаційної залежності повної інтегральної інтенсивності динамічної дифракції в монокристалах	uk_UA
dc.title.alternative	Anomalous Sensitivity of Deformation Dependence of Total Integrated Intensity of Dynamical Diffraction to Microdefects in Single Crystals	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA