Филь, Д.В.
(Физика низких температур, 1998)
Рассмотрено экранирование электрического поля пробного заряда монослойной и двухслойной системой композитных фермионов с учетом влияния границы образца. Показано, что в системе имеет место частичная экранировка поля пробного ...