Григорук, В. І.; Канєвський, В.І.; Колєнов, С.О.; Сидоренко, В.С.
(Поверхность, 2017)
Описана чисельна процедура отримання параметрів еванесцентного поля в ближній зоні нанонеоднорідностей шорсткої поверхні кварцу. Використано кінцево-елементний підхід для розв’язку двовимірного векторного рівняння Гельмгольця. ...