Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ

dc.contributor.author	Ленков, С.В.
dc.contributor.author	Фишер, З.А.
dc.contributor.author	Зубарев, В.В.
dc.date.accessioned	2018-07-14T15:42:44Z
dc.date.available	2018-07-14T15:42:44Z
dc.date.issued	1998
dc.identifier.citation	Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ / С.В. Ленков, З.А. Фишер, В.В. Зубарев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 12-14. — Бібліогр.: 13 назв. — рос.	uk_UA
dc.identifier.issn	2225-5818
dc.identifier.uri	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/140696
dc.description.abstract	Проанализированы процесс и модели отказов ИЭТ из-за механических напряжений и диффузионных процессов.	uk_UA
dc.description.abstract	The process and the models of EEA (electronic engineering articles) failures because of stress and diffusion processes have been analysed.	uk_UA
dc.language.iso	ru	uk_UA
dc.publisher	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України	uk_UA
dc.relation.ispartof	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.subject	Качество и надежность аппаратуры	uk_UA
dc.title	Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ	uk_UA
dc.title.alternative	Аналіз та експериментальна апробація моделей відмовлень дефектних виробів електронної техніки	uk_UA
dc.title.alternative	The theoretical analysis and the experimental approbation of failures models of fault products of electronic technics	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA
dc.status	published earlier	uk_UA