Лысенко, О.Г.; Грушко, В.И.; Ткач, В.Н.; Мицкевич, Е.И.
(Сверхтвердые материалы, 2013)
На основании анализа зависимости туннельного тока от параметров системы алмазное острие–образец сканирующего туннельного микроскопа оценена разрешающая способность прибора при его работе в режиме сканирования. Установлены ...