Показати простий запис статті
dc.contributor.author |
Гайдар, Г.П. |
|
dc.contributor.author |
Баранський, П.І. |
|
dc.date.accessioned |
2017-11-02T13:22:20Z |
|
dc.date.available |
2017-11-02T13:22:20Z |
|
dc.date.issued |
2016 |
|
dc.identifier.citation |
Вплив ізовалентної домішки Ge і термовідпалів на електрофізичні властивості кристалів кремнію / Г.П. Гайдар, П.І. Баранський // Доповіді Національної академії наук України. — 2016. — № 7. — С. 62-69. — Бібліогр.: 15 назв. — укр. |
uk_UA |
dc.identifier.issn |
1025-6415 |
|
dc.identifier.other |
DOI: doi.org/10.15407/dopovidi2016.07.062 |
|
dc.identifier.uri |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/125716 |
|
dc.description.abstract |
У зразках Cz−Si n-типу, легованих ізовалентною домішкою германію, виявлено суттєве
зниження ефективності утворення термодонорів у процесі термовідпалів, а також
встановлено підвищення радіаційної стійкості приблизно на порядок при опроміненні
nSi ⟨Ge⟩ швидкими нейтронами реактора. |
uk_UA |
dc.description.abstract |
В образцах Cz−Si n-типа, легированных изовалентной примесью германия, выявлено существенное снижение эффективности образования термодоноров в процессе термоотжигов, а также установлено повышение радиационной стойкости приблизительно на порядок при облучении n-Si ⟨Ge⟩ быстрыми нейтронами реактора. |
uk_UA |
dc.description.abstract |
In n-type Cz−Si samples doped by the germanium isovalent impurity, a significant decrease in the
efficiency of formation of thermodonors in the thermoannealing process is found, as well as an
increase of the radiation hardness by order of magnitude under the irradiation of n-Si ⟨Ge⟩ by
fast-pile neutrons is established. |
uk_UA |
dc.language.iso |
uk |
uk_UA |
dc.publisher |
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України |
uk_UA |
dc.relation.ispartof |
Доповіді НАН України |
|
dc.subject |
Фізика |
uk_UA |
dc.title |
Вплив ізовалентної домішки Ge і термовідпалів на електрофізичні властивості кристалів кремнію |
uk_UA |
dc.title.alternative |
Влияние изовалентной примеси Ge и термоотжигов на электрофизические свойства кристаллов кремния |
uk_UA |
dc.title.alternative |
Influence of Ge isovalent impurity and thermoannealings on the electrophysical properties of silicon crystals |
uk_UA |
dc.type |
Article |
uk_UA |
dc.status |
published earlier |
uk_UA |
dc.identifier.udc |
621.315.592 |
|
Файли у цій статті
Ця стаття з'являється у наступних колекціях
Показати простий запис статті