Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Ohmic contacts to Hall sensors based on n-InSb-GaAs(i) heterostructures

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Boltovets, N.S.
dc.contributor.author Konakova, R.V.
dc.contributor.author Kudryk, Ya.Ya.
dc.contributor.author Milenin, V.V.
dc.contributor.author Mitin, V.F.
dc.contributor.author Mitin, E.V.
dc.contributor.author Lytvyn, O.S.
dc.contributor.author Kapitanchuk, L.M.
dc.date.accessioned 2017-06-14T10:52:32Z
dc.date.available 2017-06-14T10:52:32Z
dc.date.issued 2006
dc.identifier.citation Ohmic contacts to Hall sensors based on n-InSb-GaAs(i) heterostructures / N.S. Boltovets, R.V. Konakova, Ya.Ya. Kudryk, V.V. Milenin, V.F. Mitin, E.V. Mitin, O.S. Lytvyn, L.M. Kapitanchuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2006. — Т. 9, № 2. — С. 58-60. — Бібліогр.: 2 назв. — англ. uk_UA
dc.identifier.issn 1560-8034
dc.identifier.other PACS 81.05.Rm
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121434
dc.description.abstract We consider ohmic contacts to the n-InSb epitaxial layers grown on a semi-insulating GaAs substrate. The ohmic contacts are formed through titanium metallization with subsequent gilding. Using the structural (AFM and XRD) and analytical (AES) techniques, we showed that thermal annealings at Т = 300 °С (for 60 s) and 360 °С (for 30 s) do not change the phase composition of the metallization. This ensures thermal stability of the contacts and Hall sensors made on the basis of Au–Ti–n-InSb–GaAs(i) structures. uk_UA
dc.language.iso en uk_UA
dc.publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.title Ohmic contacts to Hall sensors based on n-InSb-GaAs(i) heterostructures uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис