Показати простий запис статті
dc.contributor.author |
Boltovets, N.S. |
|
dc.contributor.author |
Konakova, R.V. |
|
dc.contributor.author |
Kudryk, Ya.Ya. |
|
dc.contributor.author |
Milenin, V.V. |
|
dc.contributor.author |
Mitin, V.F. |
|
dc.contributor.author |
Mitin, E.V. |
|
dc.contributor.author |
Lytvyn, O.S. |
|
dc.contributor.author |
Kapitanchuk, L.M. |
|
dc.date.accessioned |
2017-06-14T10:52:32Z |
|
dc.date.available |
2017-06-14T10:52:32Z |
|
dc.date.issued |
2006 |
|
dc.identifier.citation |
Ohmic contacts to Hall sensors based on n-InSb-GaAs(i) heterostructures / N.S. Boltovets, R.V. Konakova, Ya.Ya. Kudryk, V.V. Milenin, V.F. Mitin, E.V. Mitin, O.S. Lytvyn, L.M. Kapitanchuk // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2006. — Т. 9, № 2. — С. 58-60. — Бібліогр.: 2 назв. — англ. |
uk_UA |
dc.identifier.issn |
1560-8034 |
|
dc.identifier.other |
PACS 81.05.Rm |
|
dc.identifier.uri |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121434 |
|
dc.description.abstract |
We consider ohmic contacts to the n-InSb epitaxial layers grown on a semi-insulating GaAs substrate. The ohmic contacts are formed through titanium metallization with subsequent gilding. Using the structural (AFM and XRD) and analytical (AES) techniques, we showed that thermal annealings at Т = 300 °С (for 60 s) and 360 °С (for 30 s) do not change the phase composition of the metallization. This ensures thermal stability of the contacts and Hall sensors made on the basis of Au–Ti–n-InSb–GaAs(i) structures. |
uk_UA |
dc.language.iso |
en |
uk_UA |
dc.publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
uk_UA |
dc.relation.ispartof |
Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|
dc.title |
Ohmic contacts to Hall sensors based on n-InSb-GaAs(i) heterostructures |
uk_UA |
dc.type |
Article |
uk_UA |
dc.status |
published earlier |
uk_UA |
Файли у цій статті
Ця стаття з'являється у наступних колекціях
Показати простий запис статті