Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Properties and application of the unequal thickness two-component interference systems

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Fekeshgazi, I.V.
dc.contributor.author Pervak, V.Yu.
dc.contributor.author Pervak, Yu.A.
dc.date.accessioned 2017-06-13T16:17:26Z
dc.date.available 2017-06-13T16:17:26Z
dc.date.issued 2000
dc.identifier.citation Properties and application of the unequal thickness two-component interference systems / I.V. Fekeshgazi, V.Yu. Pervak, Yu.A. Pervak // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2000. — Т. 3, № 3. — С. 371-378. — Бібліогр.: 20 назв. — англ. uk_UA
dc.identifier.issn 1560-8034
dc.identifier.other PACS: 42.79.Fm,W
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/121169
dc.description.abstract The methods of synthesis and designing of the two-component unequal thickness multilayer interference systems as well as interconnection of their indices of layers are presented. A solution of the problem of suppressing high reflection zones at any harmonic frequency while maintaining high reflection at the operating frequency is proposed. The evolution of refractive zones at the inclined light incidence on the multilayer systems are studied. The results of the synthesis of antireflective coatings for some widely separated wavelengths are discussed. The application of results for the specific spectral characteristics and interference filters are proposed. uk_UA
dc.language.iso en uk_UA
dc.publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.title Properties and application of the unequal thickness two-component interference systems uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис