Соколов, В.И.; Лончаков, А.Т.; Подгорных, С.М.; Дубинин, С.Ф.; Теплоухов, С.Г.; Пархоменко, В.Д.; Груздев, Н.Б.
(Физика низких температур, 2007)
Методом дифракции тепловых нейтронов исследовано структурное состояние полупроводников Zn₁₋xNixSe (х = 0,0025), Zn₁₋xCrxSe (х = 0,0029). Обнаружены крупномасштабные сдвиговые смещения атомов решетки ZnSe, которые, как ...