Данько, В.А.; Індутний, І.З.; Коломис, О.Ф.; Стрельчук, В.В.; Шепелявий, П.Є.
(Оптоэлектроника и полупроводниковая техника, 2011)
З використанням оптичних методик (поглинання в ІЧ- та видимій областях, КР-спектроскопія) досліджено реверсивний фотостимульований зсув краю поглинання (фотопотемніння) – ΔEg – наночастинок As₂S₃ у матриці SiO₁,₅. Під час ...