Показати простий запис статті

dc.contributor.author Martin, P.M.
dc.contributor.author Belyaev, A.E.
dc.contributor.author Eaves, L.
dc.contributor.author Main, P.C.
dc.contributor.author Sheard, F.W.
dc.contributor.author Ihn, T.
dc.contributor.author Henini, M.
dc.date.accessioned 2017-03-11T15:54:43Z
dc.date.available 2017-03-11T15:54:43Z
dc.date.issued 1998
dc.identifier.citation Capacitance spectroscopy of InAs self-assembled quantum dots / P.M. Martin, A.E. Belyaev, L. Eaves, P.C. Main, F.W. Sheard, T. Ihn, M. Henini // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1998. — Т. 1, № 1. — С. 7-12. — Бібліогр.: 16 назв. — англ. uk_UA
dc.identifier.issn 1560-8034
dc.identifier.other PACS 73.20; 75.50 Pp
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/114663
dc.description.abstract Capacitance spectroscopy is used to study electronic properties of self-assembled InAs quantum dots. The capacitance-voltage, C(V), measurements in combination with the magneto-capacitance, C(B), results make it possible to investigate the electrostatic profile of a series of single-barrier n-i-n GaAs/AlAs/GaAs heterostructures incorporating a layer of self-assembled InAs quantum dots in the AlAs barrier. We find that the negative charge associated with electron filling of the dots is closely compensated by a positive charge in the AlAs barrier, which we ascribe to ionised defects or impurities, possibly in association with the quantum dots. It is shown the compensation degree considerably depends on the growth conditions. uk_UA
dc.description.abstract Ємнiсна спектроскопiя використується для дослiдження електронних властивостей само-органiзованих InAs квантових точок. Вимiрювання вольт-фарадних характеристик, C(V), одночасно з даними по магнето-емностi, C(B), дозволяють дослiджувати електростатичний профiль однобар.єрних p-i-n GaAs/AlAs/GaAs гетероструктур, якi мiстять в AlAs бар.єрі шар само-органiзованих InAs квантових точок. Ми визначили, що негативний заряд, пов.язаний з заповненням квантових точок електронами, майже повнiстю компенсується позитивним зарядом в AlAs бар.єрi, що, на нашу думку, пов.язано з iонiзованими дефектами чи домiшками, якi обумовлені квантовими точками. Показано, що мiра компенсацiї суттєво залежить вiд ростових умов. uk_UA
dc.description.abstract Емкостная спектроскопия используется для исследования электронных свойств само-организованных InAs квантовых точек. Измерение вольт-фарадных характеристик, C(V), совместно с данными по магнето-емкости, C(B), позволяют исследовать электростатический профиль однобарьерных p-i-n GaAs/AlAs/GaAs гетероструктур, содержащих в AlAs барьере слой само-организованных InAs квантовых точек. Мы установили, что отрицательный заряд, связанный с заполнением квантовых точек электронами, почти полностью компенсируется положительным зарядом в AlAs барьере, который, по нашему мнению, связан с ионизованными дефектами или примесями, обусловленными квантовыми точками. Показано, что степень компенсации существенно зависит от ростовых условий. uk_UA
dc.description.sponsorship This work is supported by EPSRC (U.K.). A.E.Belyaev and L.Eaves acknowledge the financial support of the Royal Society and EPSRC, respectively. A.E.B. was partly supported by STCU under Project No.464. uk_UA
dc.language.iso en uk_UA
dc.publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
dc.title Capacitance spectroscopy of InAs self-assembled quantum dots uk_UA
dc.title.alternative Емнiсна спектроскопiя InAs само-органiзованих квантових точок uk_UA
dc.title.alternative Емкостная спектроскопия InAs само-организованных квантовых точек uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис