Rorward and backward electron emission induced by protons from copper foil

Abstract

Forward and backward secondary electron emission induced by normal incidence of 1.5 MeV protons from 5 μm copper foil was experimentally studied. Measurements were carried out by means of two low-aperture retarding field energy analyzers, which were installed symmetrically on each side of the target at the angle of 53° with respect to the projectile beam. The relation of electron yields of forward and backward emission was obtained. Electron distribution functions were measured in 0…90 eV energy interval. The comparative analysis of electron distribution for forward and backward cases was performed and possible reasons for the differences observed were discussed.

Експериментально досліджена вторинна емісія електронів з мідної фольги 5 мкм на простріл і на відбиття для нормального падіння пучка протонів з енергією 1,5 МеВ. Вимірювання були проведені за допомогою двох малоапертурних енергоаналізаторів з гальмуючим полем, які було розміщено симетрично по обидва боки мішені під кутами 53° до пучка частинок, що бомбардують. Отримано відношення коефіцієнтів вторинної іонно-електронної емісії на простріл і на відбиття. Виміряні функції розподілу електронів за енергіями в інтервалі 0…90 еВ. Проведено порівняльний аналіз розподілів електронів за енергіями на простріл і на відбиття та обговорюються можливі причини різниць, що спостерігаються.

Экспериментально исследована вторичная эмиссия электронов из медной фольги 5 мкм на прострел и на отражение при нормальном падении пучка протонов с энергией 1,5 МэВ. Измерения были проведены при помощи двух малоапертурных энергоанализаторов с тормозящим полем, установленных симметрично с обеих сторон мишени под углами 53° по отношению к пучку бомбардирующих частиц. Получено отношение коэффициентов вторичной ионно-электронной эмиссии на прострел и на отражение. Измерены функции распределения электронов по энергиям в интервале 0…90 эВ. Проведен сравнительный анализ распределений электронов по энергиям на прострел и на отражение и обсуждаются возможные причины наблюдаемых различий.