Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system

Репозиторій DSpace/Manakin

Показати простий запис статті

dc.contributor.author Turtsevich, A.S.
dc.contributor.author Nalivaiko, O.Y.
dc.date.accessioned 2016-05-22T14:31:10Z
dc.date.available 2016-05-22T14:31:10Z
dc.date.issued 2015
dc.identifier.citation Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system / A.S. Turtsevich, O.Y. Nalivaiko // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2015. — № 1. — С. 49-58. — Бібліогр.: 34 назв. — англ. uk_UA
dc.identifier.issn 2225-5818
dc.identifier.other DOI: 10.15222/TKEA2015.1.49
dc.identifier.uri http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/100479
dc.description.abstract Modernization of horizontal low pressure deposition system has been performed. The liquid source delivery system using the bubblers has been developed. The PSG and BPSG film deposition processes and film properties using TEOS-Dimethylphosphite-TEB system have been studied. It is shown that the use of dimethylphosphite allows varying the phosphorus concentration in the wide range. It is found that the optimal range of the total boron and phosphorus concentration ensuring the acceptable topology planarity and resistance to defect formation during storage is 8.7?0.3 wt% when the phosphorus concentration is 3.0—3.8 wt%. It is found that at use of the TEOS-DMP-TEB system the depletion of the phosphorus concentration along reaction zone does not occur, and the total dopant concentration is practically constant. At the same time the deposition rate of BPSG films is 9.0—10.0 nm/min and the good film thickness uniformity are ensured. The as-deposited films have “mirror-like surface” that is proof of minimal surface roughness. The BPSG films with optimal composition are characterized by the reduced reaction capability against atmospheric moisture. uk_UA
dc.description.abstract Проведена модернизация горизонтального реактора пониженного давления. Разработана система подачи жидкого реагента с использованием барботеров. Исследованы процессы осаждения пленок и свойства пленок ФСС и БФСС с использованием системы ТЭОС-диметилфосфит(ДМФ)-триметилборат(ТМФ). uk_UA
dc.description.abstract Проведено модернізацію горизонтального реактора зниженого тиску. Розроблено систему подачі рідкого реагенту з використанням барботерів. Досліджено процеси осадження плівок і властивості плівок ФСС і БФСС з використанням системи ТЕОС-діметілфосфіт(ДМФ)-тріметілборат(ТМФ). uk_UA
dc.language.iso en uk_UA
dc.publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України uk_UA
dc.relation.ispartof Технология и конструирование в электронной аппаратуре
dc.subject Материалы электроники uk_UA
dc.title Deposition of borophosphosilicate glass films using the TEOS–dimethylphosphite–trimethylborate system uk_UA
dc.title.alternative Осаждение пленок борофосфоросиликатного стекла с использованием системы ТЭОС-диметилфосфит-триметилборат uk_UA
dc.title.alternative Осадження плівок борофосфоросілікатного скла з використанням системи ТЕОС-діметилфосфіт-тртриметілборат uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.status published earlier uk_UA
dc.identifier.udc 621.315.612


Файли у цій статті

Ця стаття з'являється у наступних колекціях

Показати простий запис статті

Пошук


Розширений пошук

Перегляд

Мій обліковий запис