Показати простий запис статті
dc.contributor.author |
Гаркавенко, А.С. |
|
dc.contributor.author |
Мокрицкий, В.А. |
|
dc.contributor.author |
Банзак, О.В. |
|
dc.contributor.author |
Завадский, В.А. |
|
dc.date.accessioned |
2016-05-22T11:47:45Z |
|
dc.date.available |
2016-05-22T11:47:45Z |
|
dc.date.issued |
2014 |
|
dc.identifier.citation |
Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть вторая: эксперимент / А.С. Гаркавенко, В.А. Мокрицкий, О.В. Банзак, В.А. Завадский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2014. — № 5-6. — С. 51-56. — Бібліогр.: 17 назв. — рос. |
uk_UA |
dc.identifier.issn |
2225-5818 |
|
dc.identifier.other |
DOI: 10.15222/TKEA2014.2.51 |
|
dc.identifier.uri |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/100466 |
|
dc.description.abstract |
При облучении полупроводниковых кристаллов мощными (сильноточными) импульсными электронными пучками высоких энергий обнаружен новый вид отжига, названный авторами ионизационным. В данной статье описаны экспериментальные исследования, подтверждающие сделанное ранее теоретическое обоснование. |
uk_UA |
dc.description.abstract |
При опроміненні напівпровідникових кристалів потужними (сильнострумовими) імпульсними електронними пучками високих енергій виявлено новий вид відпалу, названий авторами іонізаційним. У цій статті наведено результати експериментальних досліджень, які підтверджують зроблене раніше теоретичне обгрунтування. |
uk_UA |
dc.description.abstract |
There is a conception that irradiation of semiconductor crystals with high energy electrons (300 keV) results in a significant and irreversible deterioration of their electrical, optical and structural properties. This article describes an experimental study on the influence of high-current pulsed electron beams on the optical homogeneity of semiconductor GaAs and CdS crystals, confirming the theory put forward earlier. |
uk_UA |
dc.language.iso |
ru |
uk_UA |
dc.publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
uk_UA |
dc.relation.ispartof |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|
dc.subject |
Материалы электроники |
uk_UA |
dc.title |
Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть вторая: эксперимент |
uk_UA |
dc.title.alternative |
Іонізаційний відпал напівпровідникових кристалів. Частина друга: експеримент |
uk_UA |
dc.title.alternative |
Ionization annealing of semiconductor crystals. Part two: the experiment |
uk_UA |
dc.type |
Article |
uk_UA |
dc.status |
published earlier |
uk_UA |
dc.identifier.udc |
535.14:621.365.826 |
|
Файли у цій статті
Ця стаття з'являється у наступних колекціях
Показати простий запис статті