Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
Закономерности деградации светоизлучающих диодов
Репозиторій DSpace/Manakin
Вхід
|
Допомога
Статистика
Домашня сторінка
→
Фізико-технічні та математичні науки
→
Відділення фізики і астрономії
→
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
→
Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2004
→
Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2004, № 2
→
Переглянути статтю
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Закономерности деградации светоизлучающих диодов
Викулин, И.М.
;
Ирха, В.И.
;
Коробицын, Б.В.
;
Горбачев, В.Э.
Інші назви:
Закономірності деградації світловипромінюючих діодів
Legitimacies of a degradation of light-emitting diodes
Тема:
Контроль. Качество. Надежность
URI:
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/53801
Посилання:
Закономерности деградации светоизлучающих диодов / И.М. Викулин, В.И. Ирха, Б.В. Коробицын, В.Э. Горбачев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 2. — С. 55-56. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
Дата:
2004
Переглядів:
761
Завантажень:
779
Закономерности деградации светоизлучающих диодов
Анотація:
Предложен метод тестирования фосфид-галлиевых светоизлучающих диодов на величину срока службы, значительно сокращающий время отбраковки ненадежных СИД в производстве.
Показати повний запис статті
Файли у цій статті
Name:
14-Vikulin.pdf
Розмір:
111.8Кб
Формат:
PDF
Перегляд/
Відкрити
Ця стаття з'являється у наступних колекціях
Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2004, № 2
[21]
Пошук
Пошук
Ця колекція
Розширений пошук
Перегляд
Вся бібліотека
Розділи і Колекції
За датою випуску
Автори
Назви
Теми
Колекція
За датою випуску
Автори
Назви
Теми
Мій обліковий запис
Логін
Реєстрація