Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев
Репозиторій DSpace/Manakin
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев
Інші назви:
Вимірювально-окислювальний комплекс СМ-100 для характеризації рідкокристалічних дисплеїв
Display measuring system CM-100 for LCD characterization
Display measuring system CM-100 for LCD characterization
Тема:
Технологические процессы и оборудование
Посилання:
Измерительно-вычислительный комплекс СМ-100 для характеризации жидкокристаллических дисплеев / В.М. Cорокин, Р.Я. Зелинский, А.В. Рыбалочка, А.С. Олийник // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 1. — С. 48-53. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
Дата:
2008
Переглядів:
806
Завантажень:
510
Анотація:
Для научных центров и предприятий России, Белоруссии и Украины оптимален комплекс СМ-100, разработанный в Институте физики полупроводников НАН Украины.
