Дефектообразование,индуцированное электронными переходами в твердом аргоне

Дефектообразование,индуцированное электронными переходами в твердом аргоне

Савченко, Е.В. ; Огурцов, А.Н. ; Григоращенко, О.Н. ; Губин, С.А.

Інші назви: Defect formation induced by excitation of electronic subsystem in solid Ar

Тема: Низкотемпературная физика пластичности и прочности

Інший ID: PACS: 71.55 Ht; 61.80.Fe; 71.35.-y

URI: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/175102

Посилання: Дефектообразование,индуцированное электронными переходами в твердом аргоне / Е.В. Савченко, А.Н. Огурцов, О.Н. Григоращенко, С.А. Губин // Физика низких температур. — 1996. — Т. 22, № 10. — С. 1210-1215. — Бібліогр.: 27 назв. — рос.

Підтримка: Работа выполнена при частичной финансовой поддержке Международного научного фонда (грант U29200).

Дата: 1996

Завантажень: 137

Дефектообразование,индуцированное электронными переходами в твердом аргоне

Анотація:

Представлены результаты первого спектроскопического наблюдения дефектообразования в твердом аргоне, индуцированного возбуждением электронной подсистемы. Получены доказательства образования заряженных и нейтральных дефектов. Использована комбинация методов люминесцентной и термоактивационной спектроскопии.

Подано результати першого спектроскопічного спостереження дефектоутворення у твердому аргоні, індукованого збудженням електронної підсистеми. Одержано докази утворення заряджених і нейтральних дефектів. Застосовано комбінацію методів люмінесцентної і термоактиваційної спектроскопії.

The first spectroscopic data on defect formation induced by excitation of electronic subsystem are presented. Evidence of charged and neutral defect formation is obtained. Combination of luminescence and thermoactivation spectroscopy methods is used.

Показати повний запис статті