Проведены низкотемпературные измерения термического коэффициента линейного расширения сильного парамагнетика FeSi. Полученные результаты обсуждаются в рамках спин-флуктуационной теории. Показано, что электронная часть термического коэффициента линейного расширения отрицательна в области температур ниже температуры фазового перехода полупроводник—металл, в металлической фазе она становится положительной. Эта особенность термического коэффициента линейною расширения FeSi объясняется перенормировкой спиновыми флуктуациями плотности состояния d-электронов.
Проведено низькотемпературне вимірювання термічного коефіцієнта лінійного розширення сильного парамагнетика FeSi. Отримані результати обговорюються в рамках спін-флуктуаційної теорії. Показано, що електронна частина термічного коефіцієнта лінійного розширення негативна в області температур нижче температури фазового переходу напівпровідник-метал, в металевій фазі вона стає позитивною. Ця особливість термічного коефіцієнта лінійного розширення FeSi пояснюється перенормуванням спіновими флуктуаціями густини станів d-електронів.
The low temperature measurements of thermal coefficient of linear expansion of strong paramagnet FeSi are carried out. The results obtained are discussed within the framework of spin-fluctuation theory. It is shown that electronic part of the thermal coefficient of linear expansion is negative in the range of temperatures lower that of the semiconductor-metal phase transition. In metal phase it becomes positive. This specific feature of the thermal coefficient is explained by the spin-fluctuation renormalization of d-electronic states density.