Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications

Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications

Druzhinin, A.O. ; Khoverko, Yu.M. ; Ostrovskii, I.P. ; Liakh-Kaguy, N.S. ; Pasynkova, O.A.

Інші назви: Деформационно-стимулированые эффекты в микроструктурах антимонида индия при криогенных температурах для сенсорных применений
Деформаційно-стимульовані ефекти в мікроструктурах антимоніду індію за кріогених температур для сенсорних застосувань

Тема: Новые компоненты для электронной аппаратуры

УДК: 625.315.592

Інший ID: DOI: 10.15222/TKEA2019.3-4.03

URI: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/167872

Посилання: Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications / A.O. Druzhinin, Yu.M. Khoverko, I.P. Ostrovskii, N.S. Liakh-Kaguy, O.A. Pasynkova // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2019. — № 3-4. — С. 3-9. — Бібліогр.: 31 назв. — англ.

Дата: 2019

Завантажень: 215

Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications

Анотація:

The authors investigate deformation-induced changes in the electrophysical parameters of the indium antimonide microcrystals at cryogenic temperatures in strong magnetic fields up to 10 T.

Исследованы деформационно-стимулированные изменения электрофизических параметров микрокристаллов антимонида индия при криогенных температурах в сильных магнитных полях (до 10 Тл).

У роботі досліджено деформаційно-стимульоване змінення електрофізичних параметрів ниткоподібних кристалів антимоніду індію за кріогенних температур у сильних магнітних полях (до 10 Тл).

Показати повний запис статті