Эвристическая модель деформационной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции для диагностики монокристаллов с дефектами нескольких типов

Abstract

С целью разработки подхода для диагностики несовершенств монокристаллов методом деформационной зависимости (ДЗ) полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) предложена соответствующая эвристическая модель, справедливая в случаях, когда диффузная составляющая ПИИДД может быть соизмеримой с её когерентной составляющей или существенно превышать её. При этом измерения ДЗ ПИИДД при различных условиях дифракции и в разных областях деформации позволяют определять как параметры дефектной структуры, так и необходимые, изменяющиеся за счёт дефектов характеристики ДЗ. В результате была создана упрощённая модель диагностики хаотически распределённых дефектов методом ДЗ ПИИДД при отсутствии сегодня строгой теоретической модели, необходимой для этого случая, но без использования при этом эталонных образцов.

С целью разработки подхода для диагностики несовершенств монокристаллов методом деформационной зависимости (ДЗ) полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) предложена соответствующая эвристическая модель, справедливая в случаях, когда диффузная составляющая ПИИДД может быть соизмеримой с её когерентной составляющей или существенно превышать её. При этом измерения ДЗ ПИИДД при различных условиях дифракции и в разных областях деформации позволяют определять как параметры дефектной структуры, так и необходимые, изменяющиеся за счёт дефектов характеристики ДЗ. В результате была создана упрощённая модель диагностики хаотически распределённых дефектов методом ДЗ ПИИДД при отсутствии сегодня строгой теоретической модели, необходимой для этого случая, но без использования при этом эталонных образцов.

For the development of approach to diagnostics of single crystals with microdefects by the method of deformation dependences (DD) of the total integrated intensity of dynamical diffraction (TIIDD), the corresponding heuristic model is created. The proposed model is correct in cases, when the diffuse component of the TIIDD is comparable with its coherent component or substantially exceeds it. The measurement of the DD TIIDD under various diffraction conditions and in different deformation regions makes it possible to determine both the defect-structure parameters and the required DD characteristics, which are changed due to microdefects. As a result, in the absence of the rigorous theory for this case, a simplified model without the use of reference samples for diagnostics of chaotically distributed microdefects by the DD TIIDD method is created.