Предложена аналитическая модель механизма взаимодействия токов, возникающих вследствие воздействия электромагнитного излучения в проводящих элементах электрорадиоизделий с собственными электромагнитными колебаниями структур металл-диэлектрик-полупроводник. Определены потери энергии потоков заряженных частиц, обусловленные взаимодействием такого рода, на возбуждение колебаний в субмиллиметровом диапазоне.
Запропонована аналітична модель механізму взаємодії струмів, що виникають внаслідок дії імпульсного електромагнітного випромінювання у провідних елементах електрорадіовиробів, з власними електромагнітними коливаннями структур метал-діелектрик-напівпровідник. Визначено енергетичні втрати потоку заряджених частинок, що обумовлені взаємодією такого роду, на збудження коливань у субміліметровому діапазоні.
Action of pulsed electromagnetic radiation on electric radio apparatus often results in EMF and currents arising in inner conductive elements as well as distortion of their internal fields. Power losses of charged particle flux caused by such interaction due to excitation of surface polaritons in metal – dielectric – semiconductor structures have been determined.