New materials for luminescent scanning near-field microscopy

Домашня сторінка
→
Фізико-технічні та математичні науки
→
Відділення фізико-технічних проблем матеріалознавства
→
Functional Materials
→
Functional Materials, 2013, том 20
→
Functional Materials, 2013, № 3
→
Переглянути статтю

New materials for luminescent scanning near-field microscopy

Chornii, V. ; Chukova, O. ; Hizhnyi, Yu. ; Nedilko, S.G. ; Nedilko, S.A. ; Terebilenko, K. ; Slobodyanik, M. ; Aigouy, L. ; Billot, L. ; Boyko, V. ; Virko, S. ; Gomenyuk, O.

Тема: Devices and instruments

Інший ID: DOI: dx.doi.org/10.15407/fm20.03.402

URI: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/120098

Посилання: New materials for luminescent scanning near-field microscopy / V. Chornii, O. Chukova, Yu. Hizhnyi, S.G. Nedilko, S.A. Nedilko, K. Terebilenko, M. Slobodyanik, L. Aigouy, L. Billot, V. Boyko, S. Virko, O. Gomenyuk // Functional Materials. — 2013. — Т. 20, № 3. — С. 402-406. — Бібліогр.: 10 назв. — англ.

Дата: 2013

Завантажень: 724

New materials for luminescent scanning near-field microscopy

Анотація:

Results on synthesis and characterization of the luminescent probes for applications in determination of near-field optical characteristics and spatial distribution of local temperature are presented. Two types of materials are studied: Eu³⁺ doped vanadates LaVO₄, and chromium-doped composites (NaAl(MoO₄)₂/Al₂O₃):Cr. It was shown that submicron-sized particles of the mentioned materials can be used for development of the luminescent probes for near-field optical applications.

Показати повний запис статті