Изучена связь топологических особенностей поверхности рефракции с характером прохождения объемной волны ТМ или ТЕ типа через прозрачную полуволновую пластину АФМ в скрещенных постоянных магнитном и электрическом полях. Показано соответствие условий резонансного прохождения как спектру вытекающих объемных магнитных поляритонов слоя, так и спектру электромагнитных волн в пластине с экстремальными значениями поверхностного импеданса.
Вивчено зв’язок топологічних особливостей поверхні рефракції з характером проходження об’ємної хвилі ТМ або ТЕ типу через прозору напівхвильову пластину АФМ в схрещених постійних магнітному та електричному полях. Показано відповідність умов резонансного проходження як спектру об’ємних магнітних поляритонів шару, які витікають, так і спектру електромагнітних хвиль у пластині з екстре мальними значеннями поверхневого імпедансу.
The relationship between the topological characteristics of the refraction surface and the behavior of transmission of TM- or TE-type volume waves through a transparent half-wave AFM layer in crossed dc magnetic and electric fields is studied. It is shown that the conditions of resonance transmission correspond to the spectrum of escaping volume magnetic polaritons of the layer and to the spectrum of electromagnetic waves in the plate with extreme values of the surface impedance.