Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
The influence of size effects on thin films local piezoelectric response of thin films
Репозиторій DSpace/Manakin
- Домашня сторінка
- →
- Фізико-технічні та математичні науки
- →
- Відділення фізики і астрономії
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
- →
- Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2007, том 10
- →
- Semicond. Physics Quantum Electronics & Optoelectronics, 2007, № 4
- →
- Переглянути статтю
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
The influence of size effects on thin films local piezoelectric response of thin films
Інший ID:
PACS 77.80.Fm, 77.65.-j, 68.37.-d
Посилання:
The influence of size effects on thin films local piezoelectric response of thin films / A.N. Morozovska, S.V. Svechnikov // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2007. — Т. 10, № 4. — С.36-41. — Бібліогр.: 17 назв. — англ.
Дата:
2007
Переглядів:
638
Завантажень:
383
Анотація:
We discuss the influence of size effects on the local piezoelectric response of
thin films. In calculations of the electrostatic potential in the triple system “PFM probe tip –
film – substrate,” the effective point charge model is used. The obtained expressions for the
local piezoelectric response of a surface layer (film) capped are intended for the
calculations of Piezoresponse Force Microscopy signals of thin polar films epitaxially
grown on thick substrates. Theoretical predictions are in qualitative agreement with typical
experimental results obtained for perovskite Pb(Zr,
Ti)O₃ and multiferroic BiFeO₃ films.
