Методами рентгеновской дифракции изучалась структура аморфных лент сплава Fe₈₀Si₆B₁₄ и закономерности структурных изменений в широком температурном интервале: от −190°C до +598°С. Исследования проводились на дифрактометре XRD; для регистрации рассеянного рентгеновского излучения использовался двухкоординатный рентгеновский детектор, источник рентгеновского излучения – синхротрон. Съёмка рентгенограмм проводилась с шагом по температуре 4 К. Это, а также используемая геометрия рентгеновской съёмки (на просвет) и очень малая длина волны используемого излучения (0,1239 Å), обеспечивали очень высокую интенсивность (статистическая ошибка счёта на «хвосте» дифрактограммы – не больше 1%). Полученные данные позволяют считать, что кристаллические кластеры даже в аморфных лентах вращаются с большими скоростями, хотя эти данные и следует рассматривать лишь как необходимые, но недостаточные для однозначного утверждения.
Методами Рентґенової дифракції вивчалася структура аморфних стрічок стопу Fe₈₀Si₆B₁₄ та закономірності структурних змін у широкому температурному інтервалі: від −190°С до +598°С. Дослідження виконувалися на дифрактометрі XRD, в якому для реєстрації розсіяного Рентґенового випромінення використовувався двокоординатний Рентґенівський детектор, джерело Рентґенового випромінення – синхротрон. Знімання рентґенограм виконувалося з кроком по температурі у 4 К. Це, а також використовувана геометрія рентґенівського знімання (на просвіт) і дуже мала довжина хвилі використовуваного випромінення (0,1239 Å) забезпечили дуже високу інтенсивність (статистична похибка розрахунку на «хвості» дифрактограми – не більше 1%). Одержані дані уможливлюють вважати, що кристалічні кластери навіть в аморфних стрічках обертаються з великими швидкостями, хоча ці дані й слід розглядати лише як необхідні, але недостатні для однозначного твердження.
The structure of amorphous Fe₈₀Si₆B₁₄ ribbons and features of structural changes in a wide temperature range from −190°C to +598°C are studied by Xray diffraction. Investigations are carried out on XRD diffractometer with two-coordinate X-ray detector and synchrotron radiation with a temperature step of 4 K. Used geometry of X-ray mode (transmission diffraction pattern) as well as very short wavelength of used radiation (0.1239 Å) provide very high intensity (statistical error of the calculation on ‘tail’ of diffraction pattern is less than 1%). The obtained data allow conceiving that crystal clusters have high rotation rate even in amorphous ribbon. Nevertheless, these data can be considered only as necessary, but insufficient for unambiguous statement.
