Шовкопляс, О. А.; Соболь, О. В.
(Физическая инженерия поверхности, 2013)
Методом рентгеновской дифрактометрии, включающим рентгентензометрию (“a-sin2
ψ-метод),
проанализировано фазово-структурное и напряженно-деформированное состояния ионно-плаз-менных покрытий квазибинарной системы TiC-WC в ...