Федотов, Ю.В.; Рябченко, С.М.; Шахов, А.П.
(Физика низких температур, 2000)
Обнаружено уменьшение плотности критического тока Jc тонкой пленки YBa₂Cu₃O₇₋x после ее облучения электронами с энеpгией 4 МэВ. Показано, что температурная зависимость Jc согласуется с представлением о гранулярной структуре ...