Бобик, М.Ю.; Іваницький, В.П.; Ковтуненко, В.С.; Сабов, В.І.
(Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2013)
Поєднанням метод електронної й атомно-силової мікроскопії визначено
кількісні параметри наноструктури аморфних плівок системи Ge—Se: розміри неоднорідностей, висоту виступів та глибину впадин рельєфу поверхні, діаметри ...