Погребняк, А.Д.; Береснев, В.М.; Ильяшенко, М.В.; Проценко, С.И.; Дуб, С.Н.; Турбин, П.В.; Кирик, Г.В.; Шипиленко, А.П.; Кылышканов, М.К.; Грищенко, В.И.
(2008)
Впервые с помощью различных методов (Резерфордовского обратного рассеяния ионов (RBS), сканирующей туннельной микроскопии (STM), растровой электронной микроскопии с микроанализом (SEM c EDS), дифракции рентгеновских лучей ...