Зайков, В.П.; Киншова, Л.А.; Моисеев, В.Ф.; Ефремов, В.И.; Мельник, Ю.В.
(Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2008)
Выполнен сравнительный анализ показателей надежности ТЭУ для различных токовых режимов. Показана возможность прогнозирования показателей надежности на стадии проектирования устройств.