Гомза, Ю.П.; Клепко, В.В.; Несін, С.Д.; Лисенков, Е.А.; Куницький, Ю.А.; Барабаш, М.Ю.; Хоменко, Л.Г.
(Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2009)
З використанням стандартного дифрактометра ДРОН-2.0 реалізовано методику вивчення особливостей близької впорядкованости матеріялу надтонких епітаксійних плівок з використанням геометрії паралельних ковзних променів в умовах ...